儀器名稱：Zeta電位和絕對分子量分析儀

品牌:  馬爾文

型號：Nano ZS系列

產(chǎn)地：英國

儀器介紹：

1. 新一代Zetasizer Nano ZS可以為膠體和聚合物化學專家提供綜合測量三項最重要參數(shù)的能力，即粒度、zeta 電位和分子量。這些系統(tǒng)中內(nèi)置了新技術(shù)，提供無比的靈敏性和多功能性。粒度 - NIBS 技術(shù)可以對粒徑范圍0.3 納米至 10 微米的顆粒和分子進行測量。Zeta 電位 - M3-PALS 技術(shù)能夠?qū)λ稚⒑头撬稚Ⅲw系中的 zeta 電位進行精確的測量。分子量 - 雪崩光電二極管檢測器和光纖檢測光學裝置提供測量絕對分子量所需的靈敏度和穩(wěn)定性。 Zetasizer Nano ZS中,可根據(jù)實際應用選擇Nano ZS, Nano ZS90, Nano S, Nano Z,Nano S90等不同型號。Zetasizer Nano ZS 是 Malvern Zetasizer Nano ZS中的佼佼者，能夠測量所有三項參數(shù)，而且性能絲毫不減。
Nano ZS、Z 及 ZS90 都可以使用獨特的一次性 zeta 電位樣品池，避免樣品之間的交叉污染。

2. 新一代Zetasizer Nano ZS納米粒度和Zeta電位及分子量分析儀，持續(xù)革新與優(yōu)化樹立納米分析新標桿，融合多項挑戰(zhàn)顆粒表征極限 ，粒度范圍極寬:0.3-- 10 μm，濃度范圍廣: 0.1ppm—40%(w/v)，測量絕對分子量，高分辨率高靈敏度Zeta電位測量，zeta電位樣品池具有所需樣品量低至150 μl 和檢測高濃度樣品高至40%(依賴于樣品)的極限能力。

3. 馬爾文NIBS非侵入背側(cè)光散射技術(shù)使儀器具有高靈敏性
新一代PALS+M3技術(shù),將優(yōu)的硬件與軟件技術(shù)相結(jié)合,有效檢測散射光的相位變化，馬爾文的毛細管樣品池電極組件,真正避免交叉污染。

4. 強大多功能系統(tǒng)，公認的APD檢測器,靈敏度無出其右，特制高性能He-Ne激光器,提供高的穩(wěn)定性，標準配置研究級高速數(shù)字相關(guān)器，175度和12.8度相結(jié)合的雙角度測量模式,洞悉體系中的締合物含量。